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解决方案

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铁电材料与存储器件测试

更新时间:2026-09-07 品牌:概伦电子(Primarius) 浏览量:49

应用背景

 

铁电材料凭借其独特的极化翻转特性,近年来备受关注。这一优异材料平台为存储器、逻辑器件和传感器等领域开辟了广阔的应用空间。基于此的铁电随机存取存储器(FeRAM)、铁电场效应晶体管(FeFET)和铁电隧道结(FTJ)等器件,具备非易失性存储和抗辐照能力,在存算一体架构中展现出优势,是后摩尔芯片技术中极具潜力的半导体存储器件。

 

核心测试项目

 

  • 电滞回线测试
    传统的铁电材料具有类似钙钛矿(ABO₃)晶格结构,这种非中心对称结构使材料具有可被外电场反转的自发极化。在交变电场作用下,极化强度的滞后响应形成了特征性的电滞回线,成为判别铁电材料的关键依据。通过电滞回线,您也可定性评估铁电材料的整体性能与应用潜力。
    铁电体的电滞回线
  • PUND测试
    PUND测试则是另一种铁电材料的基础标准表征方法。这种基于离散脉冲序列的测试方法能够剔除漏电流和寄生电容的干扰,从而客观表征器件的开关极化。在PUND测试中,向样品施加四个特定时序和极性的电压脉冲,采集电荷响应。通过计算(P-U)与(N-D)两组差值电荷的差异,即可提取真正的翻转极化电荷。
    PUND模式脉冲施加示意图
  • 疲劳测试
    铁电疲劳是指材料在反复极化翻转过程中,剩余极化逐步衰减的现象。疲劳产生的机理往往被认为是铁电材料与电极交界处存在的氧空位发生了迁移与富集,从而引发畴壁钉扎效应。随着循环次数增加,钉扎效应不断累积,参与响应的有效电荷量持续减少,最终表现为开关特性的不可逆退化。
    (A) 初始的和疲劳的电滞回线;(B)转换极化强度随反转次数的变化

 

概伦电子解决方案

 

  • 概伦电子半导体参数测试系统(配置FK401B快速波形发生与测试功能模组)
    用于完成铁电材料与器件的直流I-V、电流、电压等电学测试,并支持高速脉冲及任意波形激励。配置FK401B功能模组时,可提供±10 V/10 mA输出范围,支持130 ns最小脉冲宽度及10 ns采样时间,可满足铁电材料与器件动态电学特性测试需求。
  • 概伦电子LabExpress电性参数测试软件
    具备强大的测试分析和灵活的自定义能力。可完成测试配置、数据采集与分析,并支持铁电材料与器件测试流程的自动化执行及自定义开发。

以下为采用LabExpress实测数据:

电滞回线测试
PUND测试(V,I-T)
PUND测试(Charge-V,经过计算相减)基于FastIV_Stress实现的应力-滞回测试
PUND测试(Charge-V,经过计算相减)基于FastIV_Stress实现的应力-滞回测试

 

方案特点

  • 覆盖铁电材料常用的极化特性测试
  • 快速波形激励与瞬态电流采集相结合
  • 适用于铁电材料及多种铁电器件研发

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