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铁电材料与存储器件测试
概伦电子半导体参数测试系统（配置FK401B快速波形发生与测试功能模组）：用于完成铁电材料与器件的直流I-V、电流、电压等电学测试，并支持高速脉冲及任意波形激励。配置FK401B功能模组时，可提供±10 V/10 mA输出范围，支持130 ns最小脉冲宽度及10 ns采样时间，可满足铁电材料与器件动态电学特性测试需求。概伦电子LabExpress电性参数测试软件：具备强大的测试分析和灵活的自定义能力。可完成测试配置、数据采集与分析，并支持铁电材料与器件测试流程的自动化执行及自定义开发。2026-09-07 17:16:12 -
薄膜磁电阻率测试
某材料领域用户需要进行薄膜磁电阻的电阻率测试，在这个测试中首先需构建变化的磁场，再向待测磁电阻输入高精密恒流源，利用四探针法测试薄膜磁电阻的磁阻及磁电特性。恒流源需以1mA恒流输出,分辨率1nA。还需要有脉冲扫描功能，高电平从100mA扫描到-100mA，低电平为0.1mA。这要求恒流源电源需要有高分辨率高精度以保证测试的精准及稳定、正电流到负电流的连续稳定扫描功能。2025-12-24 09:14:25 -
IT2800 高精密源测量单元在磁电阻中的测试应用
某材料领域用户需要进行薄膜磁电阻的电阻率测试，在这个测试中首先需构建变化的磁场，再向待测磁电阻输入高精密恒流源，利用四探针法测试薄膜磁电阻 的磁阻及磁电特性。恒流源需以1mA恒流输出,分辨率InA。还需要有脉冲扫描功能，高电平从100mA扫描到-100mA,低电平为0.1mA。这要求恒流源电源需要有高分辨率高精度以保证测试的精准及稳定、正电流到负电流的连续稳定扫描功能。2022-09-30 11:00:04 -
超低电阻&微小电阻（超导材料电阻）测试方案
对于小电阻测试，采取电流源输出测试电压的方式来获取电阻值。进行超低电阻测试时，热电动势(热电电压)是常见的误差来源之一，热电动势是当电路的不同部分处在不同的温度之下，或者由不同材料制成的导体互相接触时所产生的电压。吉时利6221以及2400Grapical支持电流脉冲输出，搭配2182A纳伏表，以Delta模式来消除热电动势对测量的影响。2022-04-19 13:40:48
股票代码：002819
