半导体器件

R&S(罗德与施瓦茨)

R&S®MXO44-2410 1 GHz 4 5 Gsample/s 400 Mpts per channel 16 digital channels

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R&S(罗德与施瓦茨)

R&S®NGP804 4 800 W 0 V 至 32 V 0 A 至 20 A

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R&S(罗德与施瓦茨)

R&S®HMP4040 4 384 W 0 V 至 32 V 10 A

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R&S(罗德与施瓦茨)

RTO 2000 系列示波器具备 600 MHz 至 6 GHz 带宽，在时域和频域测试方面领先。借助卓越的信号保真度、高达 1 百万波形/秒的波形捕获率以及最高 16 位垂直分辨率，您可以快速准确地执行测量。电容式触摸屏配备 SmartGrid，使用简单直观。

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Tektronix(泰克)

TekScope分析软件可在PC端复现示波器界面，软件升级；3年全面保护，保障升级

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KEYSIGHT(是徳)

Keysight M9614A/M9615A 是 PXIe 五通道源/测量单元 (SMU)。它支持高达 30 V / 500 mA 的准确测量，分辨率低至 6 μV / 1100 pA（M9614A） 10 pA（M9615A）。

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KEYSIGHT(是徳)

Keysight M9603A 是一款 PXIe 精密型源表模块，具有同类产品中较窄的脉宽（10 μs）。 它能够以最高 15 MSa/s 的采样率进行动态/脉冲测量，适用于 VCSEL 光器件等多种新兴应用。

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KEYSIGHT(是徳)

Keysight M9602A 是一款 PXIe 源表模块，具有同类产品中较窄的脉宽（10 μs）。 它能够以最高 15 MSa/s 的采样率进行动态/脉冲测量，适用于 VCSEL 光器件等多种新兴应用。

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KEYSIGHT(是徳)

M9601A PXIe 精密 SMU 是业界领先精密 PXIe SMU，可实现从 DC 到 20 μs 脉冲至 210 V/315 mA 的更快精确测量，并具有一流的 10 fA 分辨率和低噪声。

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KEYSIGHT(是徳)

3 kVA 至 18 kVA 三相交流电源和分析仪

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HIOKI(日置)

测量频率1MHz-300MHz阻抗分析仪

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HIOKI(日置)

测量频率DC，4 Hz〜8 MHz的LCR测试仪

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Tektronix(泰克)

发现非隔离探头隐藏的快速震荡的信号。IsoVu™ 探头技术实际上通过光学隔离消除了共模干扰。这样就可以按 100V/ns 或更快的速度在 ±60kV 的基准电压上提供精确的差分测量。

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KEYSIGHT(是徳)

Infiniium EXR 系列功能强大、经济适用而且操作直观。整个系列包括 8 个型号，带宽覆盖 500 MHz 至 2.5 GHz 的范围，并配有 4 个或 8 个模拟通道，还可灵活选配数十种硬件和软件选件。

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KEYSIGHT(是徳)

Infiniium S 系列提供 500 MHz 至 8 GHz 带宽的 DSO 和 MSO 高分辨率示波器型号选择，配备 15 英寸 XGA 电容触摸屏、10 位模数转换器（ADC），并且标配了高达 50 Mpts/通道的存储器。

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Tektronix(泰克)

DPO73304SX ATI 高性能示波器可提供准确的高速信号行为捕获，以证明、验证和检定您的下一代设计。 捕获可达 33 GHz 具有低噪声和高保真度的信号，从而确保准确地测量您的信号的真实特征。

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Keithley(吉时利)

Keithley 2600B 系列系统 SMU 仪器是业界标准电流-电压源和测量解决方案，适用于高度自动化生产测试应用。 双通道和单通道型号都紧密集成一个精密电源、真正电流源、数字万用表和具有脉冲生成功能的电子负载。

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Fluke(福禄克)

便携式热像仪适用于在您需要从近处和远处、从电力公司到研发过程都能精确定位的情况下。

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Thermo Fisher(赛默飞)

使用 Thermo Scientific™ Nicolet™ iS20 FTIR 光谱仪进一步提高实验室分析效率以及光谱质量。集成式触摸板允许任意技术水平的用户快速分析具有挑战性的样品，全新多色 LED 扫描条即时将仪器的空闲、采集或警报模式反馈给用户。

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Keithley(吉时利)

4200-SCS半导体特性分析系统是用于器件、材料和半导体工艺参数分析的完整解决方案。这种先进的参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度，同时继承了嵌入式Windows操作系统和吉时利交互式测试环境，为半导体科研及产业用户进行半导体器件特性分析提供了直观而高级的功能

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