半导体器件

Tektronix(泰克)

发现非隔离探头隐藏的快速震荡的信号。IsoVu™ 探头技术实际上通过光学隔离消除了共模干扰。这样就可以按 100V/ns 或更快的速度在 ±60kV 的基准电压上提供精确的差分测量。

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Tektronix(泰克)

Tektronix MSO71254DX 混合信号示波器支持四通道同时使用23GHz带宽，高达50GS/s实时采样率，波形捕获速率：每通道最高为 >300000 wfms/s。具有16个逻辑通道，为数字和模拟信号调试提供高达80 ps定时分辨率（仅限 MSO70000DX系列）。 具有6.25Gb/s实时串行触发，能保证指定的 NRZ或8b/10b码型第一次出现时触发，以隔离码型相关影响。

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R&S(罗德与施瓦茨)

R&S®MXO44-2410 1 GHz 4 5 Gsample/s 400 Mpts per channel 16 digital channels

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R&S(罗德与施瓦茨)

R&S®NGP804 4 800 W 0 V 至 32 V 0 A 至 20 A

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R&S(罗德与施瓦茨)

R&S®HMP4040 4 384 W 0 V 至 32 V 10 A

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R&S(罗德与施瓦茨)

RTO 2000 系列示波器具备 600 MHz 至 6 GHz 带宽，在时域和频域测试方面具有优势。借助卓越的信号保真度、高达 1 百万波形/秒的波形捕获率以及最高 16 位垂直分辨率，您可以快速准确地执行测量。电容式触摸屏配备 SmartGrid，使用简单直观。

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Tektronix(泰克)

TekScope分析软件可在PC端复现示波器界面，软件升级；3年全面保护，保障升级

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HIOKI(日置)

测量频率1MHz-300MHz阻抗分析仪

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HIOKI(日置)

测量频率DC，4 Hz〜8 MHz的LCR测试仪

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Tektronix(泰克)

DPO73304SX示波器(33GHz)提供杰出信号采集性能和分析功能，满足高速数字通信/芯片研发。DPO73304SX ATI 高性能示波器可提供准确的高速信号行为捕获，以证明、验证和检定您的下一代设计。 捕获可达 33 GHz 具有低噪声和高保真度的信号，从而确保准确地测量您的信号的真实特征。

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Keithley(吉时利)

Keithley 2600B 系列系统 SMU 仪器是业界标准电流-电压源和测量解决方案，适用于高度自动化生产测试应用。 双通道和单通道型号都紧密集成一个精密电源、真正电流源、数字万用表和具有脉冲生成功能的电子负载。

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Fluke(福禄克)

便携式热像仪适用于在您需要从近处和远处、从电力公司到研发过程都能精确定位的情况下。

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Thermo Fisher(赛默飞)

使用 Thermo Scientific™ Nicolet™ iS20 FTIR 光谱仪进一步提高实验室分析效率以及光谱质量。集成式触摸板允许任意技术水平的用户快速分析具有挑战性的样品，全新多色 LED 扫描条即时将仪器的空闲、采集或警报模式反馈给用户。

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Keithley(吉时利)

4200-SCS半导体特性分析系统是用于器件、材料和半导体工艺参数分析的完整解决方案。这种先进的参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度，同时继承了嵌入式Windows操作系统和吉时利交互式测试环境，为半导体科研及产业用户进行半导体器件特性分析提供了直观而高级的功能

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BRUKER(布鲁克)

The new S8 TIGER Series 2, the next-generation sequential WDXRF spectrometer, is the most versatile tool available for advanced elemental analysis in both industry and academia.

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BRUKER(布鲁克)

D8 ADVANCE是模块化设计的全功能衍射仪，可实现粉末，块体，薄膜等样品的测试分析，同时支持高低温条件下的原位分析。

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BRUKER(布鲁克)

桌面型衍射仪，适合所有人使用的衍射仪，适合各种场合使用的衍射仪，适合各领域应用的衍射仪

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BRUKER(布鲁克)

High-resolution 3D X-ray microscopy

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BRUKER(布鲁克)

3D X-ray Microscopy at the Nanoscale

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Thermo Fisher(赛默飞)

Thermo Scientific™ Evolution™ 350 紫外-可见分光光度计专为追求更高性能的实验室而设计，其双光束光学设计为高级应用提供精确度和高度可靠性。从样本到最终结果报告，直观的软件可以快速指导您完成每个分析步骤。适于数据收集、处理和报告的综合工具可提供定量分析，扫描

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