半导体材料测试

Keithley(吉时利)

4200-SCS半导体特性分析系统是用于器件、材料和半导体工艺参数分析的完整解决方案。这种先进的参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度，同时继承了嵌入式Windows操作系统和吉时利交互式测试环境，为半导体科研及产业用户进行半导体器件特性分析提供了直观而高级的功能

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Keithley(吉时利)

2600-PCT-xB大功率半导体器件测试系统可以提供高达10kV或100A的电流、电压测试范围，可完美匹配目前的大功率半导体器件测试对大电压和大电流的要求，通过增加选件也可实现高压交流信号测试，最大电压可达3kV。

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KEYSIGHT(是德科技)

Keysight B1500A半导体参数分析仪是一款多功能的设备特性分析仪，支持IV，CV，脉冲/动态IV等。大型机和插入式模块可表征大多数电子设备以及材料，半导体和有源/无源组件。 B1500A模块化体系结构使您可以根据需要灵活地进行升级。

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概伦电子(Primarius)

9812HF采用软硬件创新设计，将低频噪声测试系统的应用频率拓展到了甚高频100MHz。作为完整的低频噪声测试系统，它适合从成熟制程到先进制程下的工艺评估，器件SPICE模型开发，噪声敏感型集成电路设计和验证等应用，特别是甚高频范围的热噪声评估和射频器件的噪声特性评估。

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概伦电子(Primarius)

9812AC专门为研究动态激励信号下的器件噪声特性和交流RTN效应而设计，支持不同频率和不同占空比下的交流激励信号，测量偏置条件更接近器件的实际工作状态，结合交流信号噪声模型，可更准确的评估工作状态中的器件噪声特性，帮助优化电路设计和性能指标。

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概伦电子(Primarius)

9813DXC是低频噪声测试领域新一代的“黄金标准”，已被众多半导体代工厂和芯片设计公司所采用。该产品本底电流噪声分辨率可达1E-27 A^2/Hz，最大测试带宽可达10MHz，可匹配从3Ω到30MΩ的阻抗范围，广泛用于28nm，14nm，10nm，7nm，5nm和3nm等各工艺节点的先进工艺研发和高端集成电路设计。

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概伦电子(Primarius)

9812E为半导体行业工艺研发、器件建模和噪声敏感型电路设计提供了完整而高效的低频噪声测试及分析解决方案，可以满足多种不同工艺平台下半导体器件和集成电路低频噪声测试的需求。该产品本底电流噪声分辨率可达1E-25 A^2/Hz，最大测试带宽可达1MHz，可匹配从3Ω到30MΩ的阻抗范围。

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概伦电子(Primarius)

FS800器件参数分析仪是概伦电子的新一代半导体器件电学特性分析设备，在一台设备中实现了电流电压（IV）测试、电容电压（CV）测试、快速波形发生与测试以及高速时域信号采集，可广泛应用于新材料和新器件研究、电性参数测试、器件模型数据测试、可靠性测试等领域。

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概伦电子(Primarius)

FS-Pro半导体参数分析仪是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备，在一个系统中实现了电流电压（IV）测试、电容电压（CV）测试、脉冲式IV测试、高速时域信号采集和低频噪声测试能力，几乎所有半导体器件的低频特性表征都可以在FS-Pro测试系统中完成。

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Keithley(吉时利)

吉時利的參數分析系统配置是功率器件特性分析的完整分析方案，包括高质量仪器、电缆、测试夹具和软件。提供7种配置，每种配置都具有快速检查器件基本参数（例如击穿电压）的实时跟踪模式和提取精密器件参数的完全参数模式。

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森美协尔(SEMISHARE)

如果您的测试PAD大于30μm，M系列则是您在实验室中的优选设备之一

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森美协尔(SEMISHARE)

E系列是一款功能进阶级探针台，能实现1μm以上的电极Pad测试，可通过较低的成本升级更多的测试功能。

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森美协尔(SEMISHARE)

SEMISHARE研发的卡盘移动技术，可满足您对整片晶圆快速测试的需求，H系列探针台非常适合研发类实验室的一次性预算购置。

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森美协尔(SEMISHARE)

FA系列探针台是专为失效分析实验室设计的一款量测设备，具光学特性、激光特性，设备结构稳定，系统性能优异， 支持多功能升级，产品功能丰富齐全。

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森美协尔(SEMISHARE)

C系列探针台通过增加屏蔽腔体的结构可实现无电磁干扰 (EMI) /射频干扰 (RFI)和不透光的测量环境，可在非真空条件下实现高低温测试需求。

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森美协尔(SEMISHARE)

CG系列探针台可提供在超高真空与高低温转换的环境下， 实现对器件及材料表征的IV/CV特性测试、射频测试、光电 测试、电磁输运特性及霍尔效应等测试。 通过设置真空腔、防辐射屏等结构，能够有效的营造一个集 成高温、低温、真空等测试环境，能够为生产出来的半导体器件提供稳定的测试环境。

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森美协尔(SEMISHARE)

X系列是一款专业应对各类先进芯片性能测试 的综合型半自动晶圆探针台，集成了电学、光波、微波等多种功能，高测试精度、运行效率与系统稳定性，可匹配多种测试应用环境，能为各类晶圆和器件提供可靠性测试。

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森美协尔(SEMISHARE)

V系列既继承了明星产品X系列半自动探针台的功能和操作性， 也支持加装loader，提供全自动测试功能； 体积、重量缩减至原来的1/2左右，极大节省空间； 可用于快速、高精度、批量测试。

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森美协尔(SEMISHARE)

SEMISHARE CGX半自动真空高低温探针台,专为研发和特定生产应用而设计，可实现在真空环境下，温度范围：77K-450K(液氮)，10K-450K(液氦)，在单片晶圆上快速完成高精度测试。

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Keithley(吉时利)

S500自动参数测试系统基于吉时利公司的高性能源表及电测技术，可完成各种直流、交流信号测试，可广泛用于半导体工艺制程的过程监控、重复性监控及器件检测领域。

停产