半导体测试 - 解决方案
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仪器租赁,使IC设计验证更高效
信号完整性是确保数字IC设计所有接口功能正常的关键。数十年以来,IC电路布局集成密度增加,数据率提高、电源电压减小、信号和时钟抖动和噪声阈值降低,不仅造成传输通道损害,而且加剧电压暂降等对电源路径影响。电源电压减小也削弱路径抗干扰性,导致信号和时钟抖动和幅度噪声。为合理设计PCB)迹线、通孔、连接器和电缆,抖动、噪声及各种参数测试分析至关重要。若您在IC设计验证时遇到:资金不足?需求不确定?仪器货期太长?仪器租赁,能帮您快速获得高/中端测试设备!2023-11-29 11:20:06 -
仪器租赁,加速高速数字接口扩张升级
企业办公(远程办公、客户交流等)、消费电子(智能手机/平板、智能医疗终端、其他各种智能设备)、车联网(智能座舱、智能驾驶-整车可看作超级计算机)三大力量及其他不同场景需求(如金融交易、控制数据等)带来海量数据爆发增长,同时受多项国家政策推动,近年我国数据中心规模和营收均保持高速增长,高速数据接口相关产业群热度持续走高。若您在接口测试或电源完整性测试时遇到:资金不足?需求不确定?仪器货期太长?仪器租赁,能帮您快速获得高/中端测试设备!2023-11-29 11:16:44 -
是德多通道源表克服LIV测试挑战
垂直腔面发射激光器(VCSEL)是成像、传感技术和数据通信的关键部件。VCSEL的优势之一是能够在制造过程的早期阶段进行晶片级别的测试,相比之下,对其他边缘发射半导体激光器的测试通常在制造周期结束时进行,此时产品已达到生产的最后阶段。这种测试方法允许及早检测组件故障,通过在封装之前识别有缺陷的设备,大大节省了时间和成本。2023-08-25 15:56:21 -
如何快速测试半导体器件I/V特性?
电子测量仪器作为基础科研工具,是国家科研自主可控的重要环节。在半导体器件、超导材料和光电器件等测试领域中,为了更全面地检测器件特性,提升整个测试系统的效率,往往对供给电源和测量同步性方面有更严苛的要求。东方中科为您推荐更加便捷的国产测试解决方案,无需上位机软件,可直接在仪器界面设置并生成半导体元件如二极管、三极管、MOS管、IGBT等IV特性曲线,并可以直接调用常用器件库,帮您快速完成测试。2023-03-02 09:48:44 -
激光器测试
激光器测试对供电源有着极高的要求,为恒流供电方式。传统的电源,默认为CV环路优先,启动瞬间抑制电流过冲速度较慢。ITECH多系列可编程直流源具备CC/CV优先权功能,用户可根据测试需求调节环路速度,选择CV模式电压高速的测试场景,或是CC优先模式电流无过冲的场景。2022-11-30 11:34:11 -
光耦继电器测试实验
光耦继电器是用半导体器件代替传统电接点作为切换装置的具有继电器特性的无触点开关器件,广泛应用于计算机外围接口装置、数控机械、遥控系统、工业自动化器械、精密仪表等产品中。在进行光耦继电器测试实验时, 过流是造成其内部输出可控硅永久性损坏的主要原因。许多负载在接通瞬间会产生很大的浪涌电流, 因此在实验时保证一定的电流余量是极其重要的。2022-11-30 11:21:00 -
半导体分立器件性能实验
半导体分立器件一般泛指半导体二极管、晶体管、晶闸管, 是构成电力电子变化装置的核心器件之一, 主要用于电力电子设备的整 流、稳压、开关、混频等, 在消费电子、汽车电子、电子仪器仪表、工业及自动控制、计算机及周边设备、网络通讯等众多国民经济领 域均有广泛、大量的应用。2022-11-28 19:28:26 -
IT2800 高精密源测量单元在磁电阻中的测试应用
某材料领域用户需要进行薄膜磁电阻的电阻率测试,在这个测试中首先需构建变化的磁场,再向待测磁电阻输入高精密恒流源,利用四探针法测试薄膜磁电阻 的磁阻及磁电特性。恒流源需以1mA恒流输出,分辨率InA。还需要有脉冲扫描功能,高电平从100mA扫描到-100mA,低电平为0.1mA。这要求恒流源电源需要有高分辨率高精度以保证测试的精准及稳定、正电流到负电流的连续稳定扫描功能。2022-09-30 11:00:04 -
存储芯片测试方案
加速科技具有完全自主知识产权国产250MBps髙性能数字混合信号测试机,对于市场上EEPROM、中小 容量NOR Flash,及嵌入式存储器有着良好的支持。适合DIO通道与电源、高压源配比及模块化的资源,使得多site 扩展简便易行。高容量向量深度,可满足中小容量存储芯片的存储功能测试。系统、各模块间高速通信帯宽,算法 硬件调度,可有效提升测试效率。2022-06-20 15:44:36 -
CIS测试方案
250Mbps以上高性能数字混合测试机,支持高达64颗2.5Gbps MIPI D PHY接口采集,满足了日益增长的高分辨率图像传感器需求,利用高达160Gbps分布式通信技术实现高速图像釆集,图像功能测试数据和DC数据无缝融合。2022-06-20 15:28:44 -
MCU/SoC测试方案
250Mbps及以上高性能数字混合信号测试系统,其功能业务板采用All-in-One设计,集成直流电压电流激励及测试单元、DSIO功能的数字通道、AWG/DGT资源,实现单板就可以完成MCU、DC、功能、AD/DA测试,为客户提供高性价比的MCU/SoC类芯片测试解决方案。2022-06-20 15:19:11 -
超低电阻&微小电阻(超导材料电阻)测试方案
对于小电阻测试,采取电流源输出测试电压的方式来获取电阻值。进行超低电阻测试时,热电动势(热电电压)是常见的误差来源之一,热电动势是当电路的不同部分处在不同的温度之下,或者由不同材料制成的导体互相接触时所产生的电压。吉时利6221以及2400Grapical支持电流脉冲输出,搭配2182A纳伏表,以Delta模式来消除热电动势对测量的影响。2022-04-19 13:40:48 -
IGBT与三代半导体SiC双脉冲测试方案
日前,基于SiC和GaN的第三代半导体技术蓬勃发展,其对应的分立器件性能测试需求也随之而来。其较高的dv/dt与di/dt给性能测试带了不少困难。泰克的TIVP系列光隔离探头,以其优越的160dB共模抑制比,超低的前端电容,丰富的连接方式,搭配便捷的AFG31000双脉冲输出功能,加速三代半导体测试流程。2022-04-06 14:28:21 -
多点位/纳安级漏电流测试解决方案
随着产线产量的增加,许多用户端采用的测试方式具有成本高、效率低的缺点,为了降低成本、提高能效,东方中科提供的多端口测试方案可解决这一难题。2022-02-15 14:48:47 -
开发未来 示波器的无限潜能——泰克开放100余种高级应用功能免费试用!
泰克将先进技术应用于电源设计,汽车电子,无线信号,高速信号,调试,验证,纠错,认证等近40种高级应用测试中,多种测试方案满足测试要求的不断升级,让工程师对设计的每个阶段都充满信心! 泰克开放100余种高级应用功能免费试用!软件与硬件完美结合,开发未来示波器的无限潜能,带您领略 “视界大不同”!2020-04-27 01:56:04 -
嵌入式系统
嵌入式系统要求测试工具既能评估单个单元、又能评估整个系统!如图所示,典型MP3音乐播放器的方框图。象许多嵌入式计算设备一样,MP3播放器使用混合信号,其中包含各种数字串行总线、数字信号处理器、连接存储器的数字并行总线、数字模拟转换器和模拟放大器。2011-01-13 08:23:13