半导体芯片测试

加速科技(SPEEDCURY)

ST2500系列高性能数字混合信号测试系统支持250Mbps数据传输，125Mhz Pattern Rate。支持多机头级联，实现32~1280数字通道灵活组合配置，实现较高机器利用率。系统业务板采用all-in-one模式（单板集成PEx32、PPMUx32、TMUx4、BPMUx4、DPSx4、AWGx1、DGTx1、CBITx8），对于小型芯片测试应用，具有极高的成本优势。

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胜达克半导体(SANDTEK)

Astar 集成电路测试机有9个功能模块插槽；1024+ 数字通道；浮动对接机构；兼容各平台的功能模块

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胜达克半导体(SANDTEK)

5个功能模块插槽位；512 数字通道；高速直接连接；兼容各平台的功能模块

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胜达克半导体(SANDTEK)

3个功能模块插槽位；256+ 数字通道；线联/定制化连接方案；兼容各平台的功能模块

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胜达克半导体(SANDTEK)

专用开短路测试机；具备8192 O/S测试通道；测试程序自动学习生成；具备总线通讯接口

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胜达克半导体(SANDTEK)

128数字通道；128M向量/支持SCAN；8通道四线式DPS；8通道四线式PMU；8通道时隙量测单元；8通道高电压驱动；250MHz时钟频率

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胜达克半导体(SANDTEK)

64路DPS通道；四线式Kelvin连接；支持Gang模式；最大可达到单板64A驱动能力；单通道最高驱动电压8V；单通道最高驱动电流1A；单通道电压驱动精度最高达到0.01%+RANGE ERROR；单通道电流测量精度最高达到0.05%+RANGE ERROR

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胜达克半导体(SANDTEK)

4通道高速波形产生器；4通道高分辨率波形产生器；4通道高速数字化仪；4/8通道高分辨率数字化仪；双时钟系统；400MSPS/16bits；384KSPS/24bits；125MSPS/16bits；16M波形存储；数字/模拟

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胜达克半导体(SANDTEK)

32路VI通道；四线式Kelvin连接；频率与时间间隔测量；浮动地，支持推叠；-1V~+42V@±100mA；-10V~+15V@±250mA；单通道电压驱动精度最高达到0.01%+RANGE ERROR；单通道电流测量精度最高达到0.05%+RANGE ERROR

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KEYSIGHT(是德)

N4373E 具有 67 GHz 频率范围和卓越的测量准确度，是在 40 Gb/s 传输系统、光纤无线电（RoF）应用中测量电光元器件的理想解决方案。

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HIOKI(日置)

提高生产效率。保证产品质量。 贴装线路板测试系统

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HIOKI(日置)

可精准探测高密度封装基板上的微小焊盘

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HIOKI(日置)

10μm高精度接触和高速测试。改变封装电路板测试。 提高分析效率与检查速度，降低测试成本，满足现场的测试需求。

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加速科技(SPEEDCURY)

为了更好地满足客户高性能、高稳定性的测试需求，加速科技重磅推出了新一代测试系统ST5000系列。该系列包含ST5000与ST5000HD两款产品，最高支持1024数字通道配置、1Gbps速率传输，Pattern Rate 支持250Mhz。硬件结构采用Direct Docking连接方式，兼容Jtype针卡，较大程度降低客户转平台治具成本。配套设计的公用loadboard，可以极大缩短客户产品硬件开发周期。ST5000还具有灵活的可扩展性，为后期蓝牙测试模块、RF测试模块及各类高性价比解决方案奠定了良好基础。

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加速科技(SPEEDCURY)

一款基于蓝牙标准SIG认证的自动化测试设备，用于蓝牙芯片的自动化测试。ST7008支持3GPP TS38.521 Release 15/16 版本、Sub-6GHz 多域并行测试，拥有信号接收、频率测试分析等功能，测试准确度高且操作便利。搭配ST2500/ST5000 系列产品可提供 RF/Digital 全方位 ATE 测试解决方案。多通道灵活配置，单表支持8部终端在线测试。

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加速科技(SPEEDCURY)

ST-G604P是料管式的全自动入料、并行四通道的集成电路分选机。设备由自动进料部件、测试梭、自动分料梭、电子控制系统、气动系统以及机架部分组成，其采用金手指夹具，寿命可达30万次。ST-G604P支持自定义设置分BIN,最多设置8BIN,通过TTL通讯协议搭载ATE测试设备，即可实现对芯片的测试分BIN。

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加速科技(SPEEDCURY)

ST-G604C是料管式的全自动入料、半自动出料的集成电路分选机。设备由自动进料部件、测试梭、自动分料梭、电子控制系统、气动系统以及机架部分组成，支持四组料管出料(PASSx2,NGx2)，四轨道并联四工位测试。ST-G604C分选机支持自定义设置分BIN,最多设置8BIN,通过TTL通讯协议搭载ATE测试设备，即可实现对芯片的测试分BIN。

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加速科技(SPEEDCURY)

SE-G604C是管料式的全自动入料、半自动出料的集成电路分选机。设备由自动进料部件、测试梭、自动分料梭、电子控制系统、气动系统以及机架部分组成，支持8BIN双组料管测试(PASS和NG)，料管支持手动装卸。SE-G604C分选机通过TTL通讯协议搭载ATE测试设备，即可实现对芯片的测试分BIN。

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