仪器租赁，IC验证和测试解决方案

更新时间：2026-10-15 浏览量：42

高速数据传输与 IC

企业办公（远程办公、客户交流等）、消费电子（智能手机/平板、各种其他智能设备）、车联网（智能驾驶）三大领域及其他不同场景需求（金融交易等）带来海量数据爆发。同时受东数西算及数字中国远景目标等国家政策推动，目前我国高性能计算产业及数据中心（Internet Data Center，IDC）高速增长，微电子芯片（Integrated circuit，IC），服务器、交换机及外围接口等细分技术成为热点，特别是IC行业发展程度不仅与社会经济水平密切相关，而且对国家竞争力有关键影响。主要分为两大技术领域：

IC设计验证解决方案

微电子芯片（Integrated Circuit，IC）按其应用领域可分为通用IC（包括CPU、GPU、DSP等），专用IC(包括ASIC、FPGA、ASSP 等）。目前热点之一AI芯片也属于ASIC（包括BPU、DPU、NPU、 VPU等）。

当前IC领域各种新技术和新标准不断涌现，如SATA、DVI、10GEA、XFP、UXF等，同时性能指标也不断提高，如数据存储容量和传输速度等。意味着IC电路布局集成密度增加，数据率提高、电源电压减小、信号和时钟抖动和噪声阈值降低，电源电压减小削弱路径抗干扰性，合理设计PCB)迹线、通孔、连接器和电缆至关重要。

软件设计原理图和仿真完成后，为排除电路板故障隐患，确保 IC满足功能目标，即每个器件、每个信号、每个单元模块都正常工作，硬件测试环节每一步都至关重要，包括PCB验证、元器件验证、单元功能验证、内外总线验证、设计功能测试等。硬件测试确保量产和经济价值的实现。

IC硬件测试一般分为非上电和上电测试两大部分，先在非上电环境下做性能测试，通过后再上电测试，测试项目包括以下几大类：

基础电气：芯片供电、电压、电流、功耗及上电状态测试
数字控制：I²C/SPI、GPIO、状态引脚及内部监控信息测试
误码与链路：高速码型、BER、电气环回、链路同步及稳定性分析
CDR与信号检测：锁定状态、LOS、输入幅度及抖动容限表征
波形与抖动：差分波形、眼图、幅度、边沿和抖动分析
信号完整性：单端及差分 S 参数、回波损耗和模式转换分析

IC设计验证解决方案

一、非上电环节测试方案：

按电路图检查芯片电源、测量电源输入阻抗，确认电源电压正常。
按电路图及元器件封装信息按序检查元器件安装是否正确。做开路、短路测试。

二、上电环节测试方案：

通电后先观察电路板是否异常（冒烟、异味、发烫等），如有立即断电排除故障。
静态调试（不加或只加固定电平做直流测试）和动态测试（输入激励信号），检测各测试点电位及输出信号是否正常。
测试工具
- KEYSIGHT 34465A 6位半数字万用表
元器件性能测试，主要包括短路测试、阻抗验证、串扰等，及测试PCB、Cable、Connector等传输线特征阻抗（阻抗不匹配会引起反射、EMI、回波损耗等问题）
为合理设计PCB迹线、通孔、连接器和电缆，可通过示波器眼图实时判定信号质量，识别不良场景以便进一步分析调试。
同时准确测量并分解抖动和噪声，并对重要信号迹线执行TDR/TDT测量，性能指标一般包括插入/回波损耗、近端 (NEXT) /远端(FEXT)串扰。以及采用频域-时域参数转换查看信号结构不连续性、阻抗及上升/下降时间、对内/对间延迟差、根据测量S参数开展眼图模板测试等。
测试工具
基本功能验证
验证测试时注意确保测试仪器接地正确，仪器带宽至少大于3倍被测电路带宽、测试点选择正确。测试项目包括：
1. 信号特征定量分析：幅度、频率、上升/下降时间、脉冲宽度/个数、过冲等
2. 电路偶发故障，分析研究其原因并排除故障
3. 信号完整性测试：是否有噪声、过冲、抖动等
4. 射频信号频谱/调制分析
5. 电流-电压瞬态功率测量
6. 信号与标准对应情况，及其他自定义方法分析
测试工具