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光电测试解决方案
随着电信网络、数据中心、AI的蓬勃发展,光电通讯中光电子器件与光模块测试显得尤为重要。我们提供PXI数据采集,数据记录,以及数据处理的解决方案,协助您加速完成光电测试。2025-06-13 15:27:22 -
光耦继电器测试实验
光耦继电器是用半导体器件代替传统电接点作为切换装置的具有继电器特性的无触点开关器件,广泛应用于计算机外围接口装置、数控机械、遥控系统、工业自动化器械、精密仪表等产品中。在进行光耦继电器测试实验时, 过流是造成其内部输出可控硅永久性损坏的主要原因。许多负载在接通瞬间会产生很大的浪涌电流, 因此在实验时保证一定的电流余量是极其重要的。2022-11-30 11:21:00