高精度ADC/DAC测试方案
背景概述
随着数字信号处理技术和数字电路速度的不断提升，系统对高速、高精度ADC/DAC的需求日益增强。在移动通信、图像采集等领域，ADC需同时满足高采样率和高分辨率数以分辨细微的变化。因此，需在高速、高精度条件下验证ADC/DAC的真实性能，同时克服系统级噪声、信号完整性及环境干扰的影响，确保实际应用中的可靠性和稳定性。
挑战：
- [复杂性]高分辨率和多通道集成导致测试项激增
- [稳定性]温度漂移、电源噪声等微小变化显著影响测试
- [时效性]高精度校准和多次采样平均时间极长
测试方案
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ADI AD7606 评估板 Demo
方案优势
- 高效复用：测试IP化、流程序列化、数据通用化、硬件模块化，减少工程师重复劳动。
- 精准可靠：高精度ADC/DAC模块与先进算法结合，满足从16位SAR到24位ΔΣ ADC的全场景测试。
- 快速迭代：支持灵活扩展与自动化升级，助力芯片厂商缩短上市时间（RTM），应对激烈的市场竞争。
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