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IT8500G+电子负载自动测试功能，降本增效的好帮手
IT8500G+ 高性能可编程直流电子负载兼具桌面型和系统集成双重使用需求，专为移动电源、工业电源模块、功率电子器件及快充适配器等研发和老化测试而设计研发。该系列产品不仅具备传统的 CC/CV/CR/CP 带载模式，同时提供 CR+CC/CV+CC/CR-LED 等复合带载模式，以广泛适用于不同特性待测物，在限制电流过冲以及动态带载方面具备优异的表现。2026-01-06 09:49:14 -
IT8500G + 直流电子负载在多领域的应用与案例分析
IT8500G+ 高性能可编程直流电子负载兼具桌面型和系统集成双重使用需求，专为移动电源、工业电源模块、功率电子器件及快充适配器等研发和老化测试而设计研发。该系列产品不仅具备传统的 CC/CV/CR/CP 带载模式，同时提供 CR+CC/CV+CC/CR-LED 等复合带载模式，以广泛适用于不同特性待测物，在限制电流过冲以及动态带载方面具备优异的表现。不仅如此，依托于 IT8500G+ 负载特有的多通道模式和内置纹波量测功能，无需额外的示波器以及通信接口卡，即可轻松实现上百通道的程控，为企业降低测试成本。2026-01-06 09:41:37 -
薄膜磁电阻率测试
某材料领域用户需要进行薄膜磁电阻的电阻率测试，在这个测试中首先需构建变化的磁场，再向待测磁电阻输入高精密恒流源，利用四探针法测试薄膜磁电阻的磁阻及磁电特性。恒流源需以1mA恒流输出,分辨率1nA。还需要有脉冲扫描功能，高电平从100mA扫描到-100mA，低电平为0.1mA。这要求恒流源电源需要有高分辨率高精度以保证测试的精准及稳定、正电流到负电流的连续稳定扫描功能。2025-12-24 09:14:25 -
芯片老化测试/功率器件老化测试
在半导体芯片老化测试中，由电源对待测物进行供电，电子负载进行拉载，虽然电源及负载可以选择高效率产品以降低测试仪器自身的功耗，但这个节能的比例并不高。而回馈式电子负载可以将拉载的直流电转化为合格的交流电送回本地电网再次使用，从测试原理上大幅降低测试成本，具有显著的节能效果。2025-12-23 16:07:47 -
电源管理芯片带载能力验证
在测试板载电源管理芯片的输出动态响应时间时，需要使用小功率高速直流电子负载。对于多轨输出的PMIC，ITECH的IT8700P+系列高速多通道直流电子负载具有非常优秀的表现。IT8700多路负载为ITECH畅销十数年的经典产品，支持16个通道模组的运行及主从并机，广泛应用于电源、电池等行业。IT8700 P +做为经典再升级的新机型，具备更快的动态响应，可实现单模组电流上升速度 12A/ μs。更快的环路速度，可精准控制电流无过冲，提高测试效率。三段电流量程，精度更高，纹波更低。2025-12-23 15:20:56 -
MOSFET 静态I-V 特性
MOSFET 的静态特性主要指输出特性和转移特性，与静态特性对应的主要参数有漏极击穿电压、漏极额定电压、漏极额定电流和栅极开启电压等。本文将介绍如何通过 ITECH 图形化源测量单元 IT2800 实现 MOSFET 的静态I-V 特性和参数测试。2025-12-23 13:39:56 -
负电压供电电源/双极性电源/双极性三通道电源
在新能源、半导体、汽车电子、激光器等前沿应用领域，测试需求日益复杂，传统正电压供电方案已难以满足芯片偏置测试、电化学沉积工艺、运算放大器供电等对负电压及正负压切换的需求。艾德克斯IT-N6300系列三通道可编程直流电源凭借内置的双极性Bipolar输出模式，革新负压供电方案，无需额外接线，即可实现高效稳定的负压供电，大幅提升测试便捷性、稳定性和精度。2025-12-23 11:43:05 -
激光芯片的暗电流测试/激光芯片 LIV 特性
光模块是现代通信技术的核心组成部分，广泛应用于数据中心、5G 网络和光纤通信等领域。光模块通常由光发射组件、光接收组件、激光器芯片（LD）、 探测器芯片(PD）等部件组成。为了确保这些器件在高性能、高速率和高稳定性的要求下正常运行，测试设备的精确性和可靠性至关重要。ITECH 的 IT2800 系 列源表凭借其高精度、高分辨率和高速脉冲扫描优势，为光模块及其核心光电芯 片测试提供了卓越的解决方案。2025-12-23 10:59:26 -
半导体材料表面电阻率/金属薄膜电阻率测量
电子器件的许多重要参数与电阻率及其分布的均匀性有密切的关系，不同于使用万用表测量常规导体电阻，半导体硅单晶电阻率以及微电子领域的其他金属薄膜电阻率的测量属于微区薄层电阻测试，需要利用微小信号供电以及高精密的量测设备。利用IT2800系列高精密源/测量单元可以精准实现半导体薄层电阻的电阻率测试，为半导体制造工艺的改进提供数据依据。IT2800SMU因其高精度测量和丰富的探针台治具优势，为行业提供专业的测试解决方案。2025-12-23 10:10:29 -
激光雷达/VCSEL 器件测试
作为现代汽车、智能交通、工业检测等领域中至关重要的传感器，其可靠性直接关系到整个系统的安全与稳定运行。为了确保激光雷达产品在各种复杂环境下都能准确、可靠地工作，制定一套完善的可靠性测试规范是必不可少的。IT2705是一款高度集成的模块化直流电源分析平台，专为研发测试中的半导体高精密测试、动态功耗测量、电池行为模拟与电源特性研究而设计。它集成了直流电源、电子负载、任意波形发生器、示波采样与数据记录功能，支持图形化操作界面。2025-12-22 16:46:49 -
革新 DC-DC 转换器与电源管理芯片测试方案
电源管理芯片（PMIC）和直流-直流转换器（DC-DC Converter）是电子系统的“能源中枢”，负责电能转换、分配、检测与管理。IT2705 以多功能集成、灵活扩展、高速测量与电池仿真能力，为 DC-DC 转换器和电源管理芯片测试提供高效、精准、可演进的新方案。无论是效率验证、功耗分析还是动态特性评估，IT2705 都能让测试更简单、更可靠。2025-12-22 16:25:33 -
ITECH氢燃料电池车测试解决方案
氢能源车的商业化进程带动了一系列新型配套产业的发展。从上游的制氢/储氢/运输到新型的燃料电池发动机及DC-DC升压变换器等。由于氢能源车的核心部件及工作原理与传统燃油车差异较大，所以传统功能单一的测试设备，已经无法满足燃料电池车的相关产品性能测试及仿真需求。ITECH一直紧跟行业发展趋势，结合创新的技术，为氢燃料电池车及其他相关应用领域，提供大功率，高性能和低成本的测试解决方案。2025-12-22 15:49:57 -
板载级多相电源模块测试
多相电源是一种将电能转换成更高或更低电压、电流或功率的电源管理芯片。相较于传统的单相方案，多相电源的优势在于通过多相供电方式来分摊每一路供电的负载，可以实现更低的输出电压纹波、更小的器件尺寸、更高的能量效率、更低的热耗散和更好的瞬态性能；此外，多相电源还可以根据 CPU/GPU 负载实时调整供电相数，既可以满足高负载时的供电需求，也可以在低负载状态下起到节能的作用。 选择多相电源芯片测试用的负载和电源，纹波和精度是非常重要的指标，其次要可以模拟芯片负载的动态电流变化。2025-11-26 15:37:26 -
大型数据中心高压直流配电柜用断路器测试
测试应用：大电流直流断路器测试2025-11-26 15:19:44 -
数据中心BBU单元备用锂电池循环寿命测试
测试应用：备用电池循环寿命测试2025-11-26 15:12:40 -
数据中心UPS不间断供电电源测试
测试应用：UPS 模块电性能测试2025-11-26 15:02:00 -
数据中心HVDC-PSU机架电源测试
测试应用：HVDC-PSU 电源模块电性能 & 输出带载特性测试；测试应用：BBU 双向 DC-DC 电源模块电性能测试2025-11-26 14:16:49 -
数据中心HVDC整流器电性能&可靠性测试
测试应用：HVDC AC-DC 整流器模块电性能测试；测试应用：HVDC AC-DC 整流器模块可靠性测试2025-11-26 13:53:21 -
AI服务器电源测试解决方案
测试应用: 服务器电源电性能测试，带载动态响应特性测试。AI 芯片对电源的动态响应速度要求越来越高，瞬时负载变化幅度较大，因此除了针对通用服务器的测试，服务器厂家后续的新品，对于负载的动态速度要求或越来越高。2025-11-26 13:29:47 -
ITECH ITS9500 电源自动测试系统
ITS9500 系列电源自动测试系统是一款方便实用的测试系统，体积仅5U，可提供超越传统大型机柜测试系统性能的测试结果，帮助客户大幅度节约空间并压缩成本。2022-11-30 20:02:00
