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光电探测器的电学测试
针对光电探测器的暗态/光照IV、CV及低频噪声测试需求，概伦电子可基于半导体参数分析仪、精密源测量单元和低频噪声测试系统，结合第三方光源及探针台，搭建光电探测器综合电学测试平台。通过LabExpress测试软件，可完成测试条件设置、仪器控制和数据采集，为光电探测器从基础电学性能到弱光探测能力评价提供测试数据。2026-09-08 09:18:57 -
铁电材料与存储器件测试
概伦电子半导体参数测试系统（配置FK401B快速波形发生与测试功能模组）：用于完成铁电材料与器件的直流I-V、电流、电压等电学测试，并支持高速脉冲及任意波形激励。配置FK401B功能模组时，可提供±10 V/10 mA输出范围，支持130 ns最小脉冲宽度及10 ns采样时间，可满足铁电材料与器件动态电学特性测试需求。概伦电子LabExpress电性参数测试软件：具备强大的测试分析和灵活的自定义能力。可完成测试配置、数据采集与分析，并支持铁电材料与器件测试流程的自动化执行及自定义开发。2026-09-07 17:16:12 -
霍尔效应器件的噪声特性测试
概伦电子噪声测试系统981X系列是全球半导体行业低频噪声测试的“黄金标准”。9813DXC可以满足多种不同工艺下半导体器件和集成电路低频噪声测试的需求。该产品本底电流噪声分辨率可达1E-27 A^2/Hz，最大测试带宽可达10MHz，可匹配从3Ω到30MΩ的阻抗范围。2026-09-07 14:56:27 -
半导体器件射频参数测试
针对半导体器件从低频到射频的数据测试需求，概伦电子以FS-Pro半导体参数分析仪和LabExpress测试软件为核心，结合第三方矢量网络分析仪和射频探针台，可构建片上器件及封装器件的射频参数测试系统。2026-09-07 14:20:03
