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解决方案

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高性价比EMI预一致性测试方案

发布时间:2022-04-06 品牌:泰克(Tektronix) 浏览量:4319

方案简介:EMI测试是EMC测试的重要环节,也是任何电子产品上市之前所必要的步骤,其设计贯穿整个产品的设计流程,要求在设计之初便需要对其进行考虑。但是传统的EMI测试往往需要专业的频谱仪或者信号分析仪,并且受制与分析带宽,往往不能很快速的捕获异常频段。泰克MSO4-5-6基于数字下变频技术的频谱视图,使其拥有超高的捕获带宽,以及超快的解析速率,能够使得工程师能够更快速的定位问题所在,加速测试流程。

 


 

EMI,Electromagnetic Interference,既电磁干扰,指设备在工作时对外部环境的干扰现象。所有的电子设备都对EMI有限制,要求满足规范,既不能影响其他设备的工作。
通常在设计过程中的EMI测试称之为Pre-EMI测试,简称预测试。一般情况下会使用频谱仪和近场探头进行测试,如下图:

泰克4-5-6系列示波器超高捕获带宽助力EMI测试

这里是使用泰克RSA306B型号USB频谱仪与仅场探头对一电源进行EMI测试

泰克4-5-6系列示波器超高捕获带宽助力EMI测试

EMI测试概图

 

由于传统的频谱仪其捕获带宽有限,一般为10MHz,20MHz,或者40MHz,部分高性能频谱仪,可以做到更高,但是其高捕获带宽一般为选件,且有较高的成本。EMI测试的频率范围有一定的要求,但是也较为宽阔,一般的频谱仪测试则会进入Scan或者Step的模式,整个测试需要很长的扫描周期,有时会高达数小时。这对于设计阶段是不可接受的。而示波器的FFT功能,则受限于采样率和存储深度。若要观测到很高的频率,要求很高采样率的同时又要求有足够的样点供以计算,难以实现。

泰克MSO4-5-6系列采用了基于硬件的DDC技术,且时域与频域并行处理架构,大大的提高了测试速度。

泰克4-5-6系列示波器超高捕获带宽助力EMI测试

泰克4-5-6系列示波器超高捕获带宽助力EMI测试

时频域同时观测以及与传统FFT的对比

泰克4-5-6系列示波器超高捕获带宽助力EMI测试

使用频谱视图定位不同异常的频点

泰克4-5-6系列示波器超高捕获带宽助力EMI测试

优秀的底噪

 

MSO6Series,其底噪相较于高端频谱仪RSA5126B,在中低频段,测试结果也不遑多让,可以保证测试的准确性。

泰克4-5-6系列示波器超高捕获带宽助力EMI测试

其操作菜单接近于频谱仪设置,可独立于时域设置CF以及Span等参数,相较于FFT操作更加便利。MSO4/5最高Span可至500MHz,MSO6BSeries最高Span高达2GHz,示波器可以作为一台DC起的中档频谱仪使用。

EMI测试实操图:

EMI测试实操图

EMI测试实操图

EMI测试实操图

EMI测试实操图

EMI测试实操图

 

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