概伦电子 P1800 精密源测量单元

IV特性表征和测量、瞬态时域采样测试、自定义波形发生与测量

P1800系列精密源测量单元是一款功能全面、操作便捷、经济高效的高性能电学测试仪表，可以满足从器件研究、技术开发到工艺验证，从教育科研到工业制造的各类高精度高速度电学测试需求。

• 在紧凑机身中集成了高精度电源、高精度电压/电流/电阻量测、瞬态时域测试，以及脉冲和任意波形发生与量测功能，支持四象限中的IV特性测试和分析。
• 量程宽，精度高，速度快，支持半导体器件以及其它各类材料和电路等领域高性能、高密度集成测试应用。
• 具备多种信号扫描模式和自定义波形功能，支持线性、对数、列表扫描模式，恒定和脉冲扫描功能，可通过数字化和图形化等形式展示测试结果。
• 开放兼容，可与各类测试仪器稳定可靠地协同运行，支持多通道测试和并行测试，提高测试效率。
• 7英寸交互式触摸屏和图形化操作界面，直观易用。
• 专业测试软件LabExpress，加速电学表征和分析。

产品亮点

• 结构紧凑

  机身小巧紧凑
  可桌面使用或高密度集成

• 功能全面

  高精度直流IV、脉冲IV、电阻、瞬态时域
  采样测试和自定义波形发生与测量

• 性能优异

  200V/1A宽量程；0.1fA电流测量分辨率
  100fA电流测量精度；1MS/s瞬态时域采样率

• 兼容性强

  具备USB，LAN，GPIB接口
  开放编程命令，兼容市面主流型号
  可高效集成

• 应用广泛

  支持半导体器件、各类材料和电路测试
  支持晶圆级测试

• 操作便捷

  7英寸触摸屏和图形化操作界面直观易用
  免费LabExpress社区版上位机测试软件

产品应用

• 电子元器件和分立器件IV测试
• 金属材料和二维材料电学特性分析
• 石墨烯和碳纳米管电学特性分析
• LED和薄膜晶体管IV测试
• 模拟电路设计验证
• 光电探测器性能测试
• MEMS与传感器性能测试
• 晶圆级可靠性测试