概伦电子(Primarius)-半导体材料测试

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FS-Pro半导体参数分析仪是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备，在一个系统中实现了电流电压（IV）测试、电容电压（CV）测试、脉冲式IV测试、高速时域信号采集和低频噪声测试能力，几乎所有半导体器件的低频特性表征都可以在FS-Pro测试系统中完成。

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FS800器件参数分析仪是概伦电子的新一代半导体器件电学特性分析设备，在一台设备中实现了电流电压（IV）测试、电容电压（CV）测试、快速波形发生与测试以及高速时域信号采集，可广泛应用于新材料和新器件研究、电性参数测试、器件模型数据测试、可靠性测试等领域。

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9812E为半导体行业工艺研发、器件建模和噪声敏感型电路设计提供了完整而高效的低频噪声测试及分析解决方案，可以满足多种不同工艺平台下半导体器件和集成电路低频噪声测试的需求。该产品本底电流噪声分辨率可达1E-25 A^2/Hz，最大测试带宽可达1MHz，可匹配从3Ω到30MΩ的阻抗范围。

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9813DXC是低频噪声测试领域新一代的“黄金标准”，已被众多半导体代工厂和芯片设计公司所采用。该产品本底电流噪声分辨率可达1E-27 A^2/Hz，最大测试带宽可达10MHz，可匹配从3Ω到30MΩ的阻抗范围，广泛用于28nm，14nm，10nm，7nm，5nm和3nm等各工艺节点的先进工艺研发和高端集成电路设计。

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9812AC专门为研究动态激励信号下的器件噪声特性和交流RTN效应而设计，支持不同频率和不同占空比下的交流激励信号，测量偏置条件更接近器件的实际工作状态，结合交流信号噪声模型，可更准确的评估工作状态中的器件噪声特性，帮助优化电路设计和性能指标。

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9812HF采用软硬件创新设计，将低频噪声测试系统的应用频率拓展到了甚高频100MHz。作为完整的低频噪声测试系统，它适合从成熟制程到先进制程下的工艺评估，器件SPICE模型开发，噪声敏感型集成电路设计和验证等应用，特别是甚高频范围的热噪声评估和射频器件的噪声特性评估。

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