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森美协尔 X系列 半自动探针台
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森美协尔 X系列 半自动探针台

型  号:X系列
名  称:半自动探针台
品  牌:森美协尔(SEMISHARE)
分  类:半导体设备 > 半导体材料测试 > 探针台
产品属性:主机
简  述:

X系列是一款专业应对各类先进芯片性能测试 的综合型半自动晶圆探针台,集成了电学、光波、微波等多种功能,高测试精度、运行效率与系统稳定性,可匹配多种测试应用环境,能为各类晶圆和器件提供可靠性测试。

X系列是一款专业应对各类先进芯片性能测试 的综合型半自动晶圆探针台,集成了电学、光波、微波等多种功能,高测试精度、运行效率与系统稳定性,可匹配多种测试应用环境,能为各类晶圆和器件提供可靠性测试。

 

产品亮点:X系列半自动探针台

 

  • 测试运行速度≥70mm/s(目前行业较高速度为50mm/s),有效提升测试效率先进的多倍率成像技术,高精度测量与动态监控,点针更便捷操作
  • -60℃~300℃宽泛测试温宽区
  • 7*24小时全天候在片探测 自主研发软件集成系统,兼容性更强

 

产品参数:X系列半自动探针台

 

森美协尔 X系列 半自动探针台

森美协尔 X系列 半自动探针台

(*规格和设计如有更改,恕不另行通知。)

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