森美协尔 X系列 半自动探针台
型 号：X系列
名 称：半自动探针台
品 牌：森美协尔(SEMISHARE)
分 类：半导体设备 > 半导体材料测试 > 探针台
产品属性：主机
简 述：
X系列是一款专业应对各类先进芯片性能测试 的综合型半自动晶圆探针台，集成了电学、光波、微波等多种功能，高测试精度、运行效率与系统稳定性，可匹配多种测试应用环境，能为各类晶圆和器件提供可靠性测试。
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X系列是一款专业应对各类先进芯片性能测试 的综合型半自动晶圆探针台，集成了电学、光波、微波等多种功能，高测试精度、运行效率与系统稳定性，可匹配多种测试应用环境，能为各类晶圆和器件提供可靠性测试。
产品亮点：X系列半自动探针台
- 测试运行速度≥70mm/s（目前行业较高速度为50mm/s），有效提升测试效率先进的多倍率成像技术，高精度测量与动态监控，点针更便捷操作
- -60℃~300℃宽泛测试温宽区
- 7*24小时全天候在片探测 自主研发软件集成系统，兼容性更强
产品参数：X系列半自动探针台
（*规格和设计如有更改，恕不另行通知。）
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