半导体设备

KEYSIGHT(是德)

Keysight B1500A半导体参数分析仪是一款多功能的设备特性分析仪，支持IV，CV，脉冲/动态IV等。大型机和插入式模块可表征大多数电子设备以及材料，半导体和有源/无源组件。 B1500A模块化体系结构使您可以根据需要灵活地进行升级。

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Keithley(吉时利)

4200-SCS半导体特性分析系统是用于器件、材料和半导体工艺参数分析的完整解决方案。这种先进的参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度，同时继承了嵌入式Windows操作系统和吉时利交互式测试环境，为半导体科研及产业用户进行半导体器件特性分析提供了直观而高级的功能

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Keithley(吉时利)

2600-PCT-xB大功率半导体器件测试系统可以提供高达10kV或100A的电流、电压测试范围，可完美匹配目前的大功率半导体器件测试对大电压和大电流的要求，通过增加选件也可实现高压交流信号测试，最大电压可达3kV。

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KEYSIGHT(是德)

N4373E 具有 67 GHz 频率范围和卓越的测量准确度，是在 40 Gb/s 传输系统、光纤无线电（RoF）应用中测量电光元器件的理想解决方案。

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HIOKI(日置)

提高生产效率。保证产品质量。 贴装线路板测试系统

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HIOKI(日置)

可精准探测高密度封装基板上的微小焊盘

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HIOKI(日置)

10μm高精度接触和高速测试。改变封装电路板测试。 提高分析效率与检查速度，降低测试成本，满足现场的测试需求。

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同惠(Tonghui)

TH510系列半导体C-V特性分析仪创新性地采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1英寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术，适用于生产线快速分选、自动化集成测试及满足实验室研发及分析。TH510系列半导体C-V特性分析仪测试频率为10kHz-2MHz，VGS电压可达±40V，足以满足二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体件CV特性测试分析。

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加速科技(SPEEDCURY)

ST2500系列高性能数字混合信号测试系统支持250Mbps数据传输，125Mhz Pattern Rate。支持多机头级联，实现32~1280数字通道灵活组合配置，实现较高机器利用率。系统业务板采用all-in-one模式（单板集成PEx32、PPMUx32、TMUx4、BPMUx4、DPSx4、AWGx1、DGTx1、CBITx8），对于小型芯片测试应用，具有极高的成本优势。

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加速科技(SPEEDCURY)

为了更好地满足客户高性能、高稳定性的测试需求，加速科技重磅推出了新一代测试系统ST5000系列。该系列包含ST5000与ST5000HD两款产品，最高支持1024数字通道配置、1Gbps速率传输，Pattern Rate 支持250Mhz。硬件结构采用Direct Docking连接方式，兼容Jtype针卡，较大程度降低客户转平台治具成本。配套设计的公用loadboard，可以极大缩短客户产品硬件开发周期。ST5000还具有灵活的可扩展性，为后期蓝牙测试模块、RF测试模块及各类高性价比解决方案奠定了良好基础。

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加速科技(SPEEDCURY)

一款基于蓝牙标准SIG认证的自动化测试设备，用于蓝牙芯片的自动化测试。ST7008支持3GPP TS38.521 Release 15/16 版本、Sub-6GHz 多域并行测试，拥有信号接收、频率测试分析等功能，测试准确度高且操作便利。搭配ST2500/ST5000 系列产品可提供 RF/Digital 全方位 ATE 测试解决方案。多通道灵活配置，单表支持8部终端在线测试。

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加速科技(SPEEDCURY)

ST-G604P是料管式的全自动入料、并行四通道的集成电路分选机。设备由自动进料部件、测试梭、自动分料梭、电子控制系统、气动系统以及机架部分组成，其采用金手指夹具，寿命可达30万次。ST-G604P支持自定义设置分BIN,最多设置8BIN,通过TTL通讯协议搭载ATE测试设备，即可实现对芯片的测试分BIN。

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加速科技(SPEEDCURY)

ST-G604C是料管式的全自动入料、半自动出料的集成电路分选机。设备由自动进料部件、测试梭、自动分料梭、电子控制系统、气动系统以及机架部分组成，支持四组料管出料(PASSx2,NGx2)，四轨道并联四工位测试。ST-G604C分选机支持自定义设置分BIN,最多设置8BIN,通过TTL通讯协议搭载ATE测试设备，即可实现对芯片的测试分BIN。

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加速科技(SPEEDCURY)

SE-G604C是管料式的全自动入料、半自动出料的集成电路分选机。设备由自动进料部件、测试梭、自动分料梭、电子控制系统、气动系统以及机架部分组成，支持8BIN双组料管测试(PASS和NG)，料管支持手动装卸。SE-G604C分选机通过TTL通讯协议搭载ATE测试设备，即可实现对芯片的测试分BIN。

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森美协尔(SEMISHARE)

X系列是一款专业应对各类先进芯片性能测试 的综合型半自动晶圆探针台，集成了电学、光波、微波等多种功能，高测试精度、运行效率与系统稳定性，可匹配多种测试应用环境，能为各类晶圆和器件提供可靠性测试。

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森美协尔(SEMISHARE)

CG系列探针台可提供在超高真空与高低温转换的环境下， 实现对器件及材料表征的IV/CV特性测试、射频测试、光电 测试、电磁输运特性及霍尔效应等测试。 通过设置真空腔、防辐射屏等结构，能够有效的营造一个集 成高温、低温、真空等测试环境，能够为生产出来的半导体器件提供稳定的测试环境。

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森美协尔(SEMISHARE)

C系列探针台通过增加屏蔽腔体的结构可实现无电磁干扰 (EMI) /射频干扰 (RFI)和不透光的测量环境，可在非真空条件下实现高低温测试需求。

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森美协尔(SEMISHARE)

FA系列探针台是专为失效分析实验室设计的一款量测设备，具光学特性、激光特性，设备结构稳定，系统性能优异， 支持多功能升级，产品功能丰富齐全。

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森美协尔(SEMISHARE)

SEMISHARE研发的卡盘移动技术，可满足您对整片晶圆快速测试的需求，H系列探针台非常适合研发类实验室的一次性预算购置。

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森美协尔(SEMISHARE)

E系列是一款功能进阶级探针台，能实现1μm以上的电极Pad测试，可通过较低的成本升级更多的测试功能。

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