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加速科技 ST5000系列 高性能数字混合信号测试系统

加速科技 ST5000系列 高性能数字混合信号测试系统
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型  号:ST5000系列
名  称:高性能数字混合信号测试系统
品  牌:加速科技(SPEEDCURY)
分  类:半导体设备 > 半导体芯片测试 > 测试机
产品属性:主机
简  述:

为了更好地满足客户高性能、高稳定性的测试需求,加速科技重磅推出了新一代测试系统ST5000系列。该系列包含ST5000与ST5000HD两款产品,最高支持1024数字通道配置、1Gbps速率传输,Pattern Rate 支持250Mhz。硬件结构采用Direct Docking连接方式,兼容Jtype针卡,较大程度降低客户转平台治具成本。配套设计的公用loadboard,可以极大缩短客户产品硬件开发周期。ST5000还具有灵活的可扩展性,为后期蓝牙测试模块、RF测试模块及各类高性价比解决方案奠定了良好基础。

为了更好地满足客户高性能、高稳定性的测试需求,加速科技重磅推出了新一代测试系统ST5000系列。

该系列包含ST5000与ST5000HD两款产品,最高支持1024数字通道配置、1Gbps速率传输,Pattern Rate 支持250Mhz。硬件结构采用Direct Docking连接方式,兼容Jtype针卡,较大程度降低客户转平台治具成本。配套设计的公用loadboard,可以极大缩短客户产品硬件开发周期。ST5000还具有灵活的可扩展性,为后期蓝牙测试模块、RF测试模块及各类高性价比解决方案奠定了良好基础。

ST-IDE软件提供用户友好的集成开发环境,丰富的开发和调试工具,方便客户进行测试程序开发。针对工厂批量测试,提供专用的工厂界面,并拥有丰富的数据记录和分析工具。

 

产品优势:ST5000系列混合信号测试系统

 

  • 高效率
    • 内部集成40Gbps通信总线,双工模式高效数据传输
    • FPGA硬件实现调度算法,无阻塞全并行测试
    • 广播式向量加载及动态修改,实现向量高速下载
    • 相比传统机台效率提升30%以上
  • 高性能
    • 数字IO速率高达1Gbps(Hard Docking模式)
    • 配合高速LoadBoard解决方案,可以支持17.5Gbps高速接口测试,支持10GE/MIPI/HDMI/JED204B/ LVDS/PCIe/自定义协议
  • 易维护
    • 通信架构,模块化设计
    • 支持级联扩展,提升通道密度
    • 支持功能板卡扩展,提升资源种类
  • 可定制
    • 自主知识产权,可依据客户需求定制测试系统
    • 提供软硬件算法定制化
    • 提供IC和模组系统级测试方案

 

应用场景:ST5000系列混合信号测试系统

 

ST5000系列数字混合信号测试系统可以广泛应用于SOC/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、CPLD/FPGA、CIS、指纹芯片、PMIC、PA、射频开关、滤波器等半导体晶圆、 器件测试和模块系统级测试。

 

产品关键特性:ST5000系列混合信号测试系统

 

  • 采用数字混合架构,单板集成数字、模拟混合信号测试功能,支持250/500MHz时钟频率,500Mbps/1Gbps数据速率
  • DFB32H业务板支持32路数字通道,每通道含独立PPMU模块,4机台级联,最大支持1024路数字通道1024sites并测
  • 每通道192M Vector存储深度,SCAN模式单SCAN Chain高达3GB,高速通信架构,Pattern加载及测试过程中 的动态修改以广播方式下发,提高并行测试效率
  • 突破传统Format限制,由用户自定义波形,128组timing set、1024组edge set、6edge可调,输入输出自由转换,大大减少程序开发限制
  • DFB32H业务支持4路DPS(+8.4V/-3.25V电平设定,驱动电流500mA),电源支持Gang Mode
  • ST5000 最高支持64路DPS, ST5000HD最高支持128路DPS
  • DFB32H业务板支持4路100MHz TMU,1路2MSPS 16bit AWG,1路1MSPS 16bit Digitizer
  • 系统采用Direct Docking连接方式,增加晶圆测试稳定性
  • 通信系统标准,超负荷硬件自测系统,保证系统超长时间稳定运行
  • 智能软硬件维护系统,提供故障代码,精确定位软硬件故障位置
  • ST-IDE软件提供基于Eclipse的IDE开发环境,支持基于C/C++的开发,提供各种开发工具和调试工具
  • 针对工厂量产提供专门GUI,数据实现显示监控,提供丰富的数据记录分析工具

ST5000系列混合信号测试系统

 

系统规格:ST5000系列混合信号测试系统

 

板卡型号 详细规格
SCB 实现整个模块板卡互联和控制
提供8个业务槽位,对外提供级联接口、调试串口
DFB32H 集成数字、模拟混合信号测试功能
32ch数字通道:500Mbps/1Gbps数据速率,每通道192M Vector存储深度,SCAN模式单SCAN Chain高达3GB,高速通信架构,Pattern加载及测试过程中的动态修改以广播方式下发,提高并行测试效率,突破传统Format限制,由用户自定义波形,128组timing set, 6 edge可调,输入输出自由转换
4ch DPS:最大输出电流±500mA,输出电压范围-3.25V to 8.4V,支持Gang模式
32ch PPMU:输出电流范围±40mA,输出电压范围-2V to 6.5V
4ch BPMU:输出电流范围-60 to 80mA,输出电压范围-2V to 9.25V
4ch TMU:最高100MHz
1ch AWG:16bit 2Msps,波形存储深度64MB,单端输出
1ch DGT:16bit 1Msps,波形存储深度64MB,单端输入
8ch CBIT:输出电压5V,驱动电流最大100mA
4ch GPIO:通用IO接口,可以配置为I2C,SPI等低速接口
配置 2SCB+16业务板(DFB32)
4SCB+32业务板(DFB32)

 

系统配置:ST5000系列混合信号测试系统

 

根据测试资源要求,通过模块扩展,可以满足资源场景配置

ST5000混合信号测试系统 512数字通道,512PPMU通道,64DPS ST5000混合信号测试系统 ST5000混合信号测试系统
ST5000HD混合信号测试系统 1024数字通道,1024PPMU通道,128DPS ST5000HD混合信号测试系统 ST5000HD混合信号测试系统

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