加速科技(SPEEDCURY)-半导体芯片测试

加速科技(SPEEDCURY)

ST2500系列高性能数字混合信号测试系统支持250Mbps数据传输，125Mhz Pattern Rate。支持多机头级联，实现32~1280数字通道灵活组合配置，实现较高机器利用率。系统业务板采用all-in-one模式（单板集成PEx32、PPMUx32、TMUx4、BPMUx4、DPSx4、AWGx1、DGTx1、CBITx8），对于小型芯片测试应用，具有极高的成本优势。

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为了更好地满足客户高性能、高稳定性的测试需求，加速科技重磅推出了新一代测试系统ST5000系列。该系列包含ST5000与ST5000HD两款产品，最高支持1024数字通道配置、1Gbps速率传输，Pattern Rate 支持250Mhz。硬件结构采用Direct Docking连接方式，兼容Jtype针卡，较大程度降低客户转平台治具成本。配套设计的公用loadboard，可以极大缩短客户产品硬件开发周期。ST5000还具有灵活的可扩展性，为后期蓝牙测试模块、RF测试模块及各类高性价比解决方案奠定了良好基础。

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一款基于蓝牙标准SIG认证的自动化测试设备，用于蓝牙芯片的自动化测试。ST7008支持3GPP TS38.521 Release 15/16 版本、Sub-6GHz 多域并行测试，拥有信号接收、频率测试分析等功能，测试准确度高且操作便利。搭配ST2500/ST5000 系列产品可提供 RF/Digital 全方位 ATE 测试解决方案。多通道灵活配置，单表支持8部终端在线测试。

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ST-G604P是料管式的全自动入料、并行四通道的集成电路分选机。设备由自动进料部件、测试梭、自动分料梭、电子控制系统、气动系统以及机架部分组成，其采用金手指夹具，寿命可达30万次。ST-G604P支持自定义设置分BIN,最多设置8BIN,通过TTL通讯协议搭载ATE测试设备，即可实现对芯片的测试分BIN。

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ST-G604C是料管式的全自动入料、半自动出料的集成电路分选机。设备由自动进料部件、测试梭、自动分料梭、电子控制系统、气动系统以及机架部分组成，支持四组料管出料(PASSx2,NGx2)，四轨道并联四工位测试。ST-G604C分选机支持自定义设置分BIN,最多设置8BIN,通过TTL通讯协议搭载ATE测试设备，即可实现对芯片的测试分BIN。

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SE-G604C是管料式的全自动入料、半自动出料的集成电路分选机。设备由自动进料部件、测试梭、自动分料梭、电子控制系统、气动系统以及机架部分组成，支持8BIN双组料管测试(PASS和NG)，料管支持手动装卸。SE-G604C分选机通过TTL通讯协议搭载ATE测试设备，即可实现对芯片的测试分BIN。

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