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NF ZM2376 元器件参数测试仪

NF ZM2376 元器件参数测试仪
浏览量:3079
型  号:ZM2376
名  称:元器件参数测试仪
品  牌:恩乃普(NF)
分  类:通用电子测试 > 元器件参数测试 > LCR测试仪
产品属性:主机
简  述:

测量范围覆盖从1mHz低频领域到5.5MHz高频领域的NF LCR;测量仪ZM系列实现了快速且偏差小的稳定测量,可对应从材料研究到零部件生产线等的各种用途。

测量范围覆盖从1mHz低频领域到5.5MHz高频领域的NF LCR;测量仪ZM系列实现了快速且偏差小的稳定测量,可对应从材料研究到零部件生产线等的各种用途。

ZM2371/ZM2372/ZM2376LCR测量仪

测量范围覆盖从1mHz低频领域到5.5Hz高频领域的NF LCR
测量仪ZM系列

实现了快速且偏差小的稳定测量,可对应从材料研究到零部
件生产线等的各种用途

产品阵容& 特性􀉾功能比较


特点
对应快速,高精度且广范围的测量

□ 宽频测量范围和高分辨率设定
ZM2371/ZM2372覆盖了1mHz~100kHz、ZM2376覆盖了1mHz~5.5MHz的频率范围。并可设定5位数/6位数的分辨率※,因此除了在实际使用频率对各种部件进行测量外,还可以对参数的频率依赖性进行评价。
※ZM2371/ZM2372:5位数、ZM2376:6位数

□ 广域的测量电平和ALC功能
对10mVrms~5Vrms/1μArms~200mArms的测量信号电平可进行3位数分辨率的设置。另外,利用ALC(自动电平控制)功能可以设置定电压/定电流驱动,因此可用考虑到试样电压/电流依赖性的稳定驱动信号来驱动,可实现高再现性的测量。

快速测量
测量时间可以在RAP (Rapid),FAST,MED (Medium),SLOW,VSLO (VerySlow) 这5种等级切换。选择RAP,可以实现2ms (1kHz/1MHz)、10ms (120Hz)的快速测量。快速、高精度的LCR测量仪有助于提高生产线及自动检查装置的测量效率。

高精度
实现了基本精度0.08%、显示分辨率最多6位数的高精度测量。值得信赖的测量在从前端器件的开发到检查线零部件分选,对提高产品性能和品质不可或缺的。

DC偏置电压
ZM2371/ZM2372内置了0􀊙+2.5V、ZM2376内置了0􀊙+5V的DC偏置用电源,可以测量电解电容等极性零部件。
ZM2376还可以快速测量锂离子电池(单电池)等的阻抗。(参照P.3)
另外,如果使用选购的DC电压偏置适配器※,可在试样上加载±40V的偏
置电压,测量大容量积层陶瓷电容的电压依赖性等。

直流电阻 (DCR) 测量
可测量线圈及变压器的卷线电阻的直流电阻。可以同时在主参数中显示电感,在副参数中显示直流电阻的测量值。

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