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市场活动

10月27日NI@上海,芯片验证技术交流会报名开启

更新时间:2023-10-25 11:05:43 品牌:NI 浏览量:1089

亲爱的芯片验证工程师们,您是否想了解芯片验证的新技术和新趋势?您是否想与业内专家和同行交流经验和心得?您是否想提升自己的芯片验证能力和水平?

 

这场专为芯片验证工程师们打造的
专业和实用的芯片验证技术交流会
不容错过!

 

活动中,您将有机会听到三位来自不同领域的芯片验证专家的精彩讲座,了解实验室Validation自动化实现过程中的三方面挑战,模拟芯片验证的发展历程与未来趋势,以及玩转数字模式仪器之高速FPGA篇。同时还有机会参与小组互动讨论交流,与其他芯片验证工程师们分享您的观点和问题,拓展您的人脉和视野。

席次有限,请您提前扫描二维码报名注册。期待与您在芯片验证技术交流会相见!

 

时间:2023年10月27日(星期五)下午15:00-17:00
地址:上海市张江高科技园区海趣路36、58号2幢4楼

 

活动议程:

15:00-15:30 张向才 纳芯微测试开发经理
张向才
纳芯微测试开发经理

演讲主题:《实验室Validation自动化实现过程中的三方面挑战》

讲座简介:不同于面向缺陷(defect)自动化量产测试,面向芯片特征(characteristic)的自动化验证(validation)目的是为硅后首颗样品提供高效率的全面评估并及时得到评估结果。实现这个目标的过程中有三个方面的挑战,第一是对DUT特性的认知,第二是测试硬件电路设计与测试仪器集成的的标准化,第三是测试软件开发和数据呈现形式的标准化。

15:30-15:40 张琛 NI半导体与电子系统研发总监
张琛
NI半导体与电子系统研发总监

演讲主题:《模拟芯片验证的发展历程与未来趋势》

讲座简介:欧美模拟设计公司是如何做到芯片验证的先进水平的?他们是如何应对芯片验证的挑战和变化的?他们是如何为芯片验证工程师提供有效的培训和指导的?我们将分析欧美模拟设计公司的芯片验证发展历程,揭示他们的成功秘诀和经验教训,同时探讨芯片验证的未来趋势和需求,帮助你把握机遇和应对变化。

15:40-16:10 黄爱华 NI应用工程师
黄爱华
NI应用工程师

演讲主题:《玩转数字模式仪器之高速FPGA篇》

讲座简介:使用数字模式编辑器,可以轻松导入、编辑或者创建测试pattern。Shmoo图,digital scope等调试工具可加速客户对芯片不同条件下的性能。现全新开放FPGA功能,无需复杂的编程,即可轻松实现数字协议的验证和测试。

16:10-17:00 小组互动讨论交流

 

线下交流会

会议主题:芯片验证技术交流会

会议时间:2023年10月27日(星期五)下午15:00-17:00

会议地址:上海市张江高科技园区海趣路36、58号2幢4楼

扫码报名:

10月27日NI@上海,芯片验证技术交流会报名开启

 

了解更多NI品牌相关内容:https://www.dfzk.com/ni/(NI品牌专区)

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