10月27日NI@上海，芯片验证技术交流会报名开启

更新时间：2023-10-25 11:05:43 品牌：NI 浏览量：667

亲爱的芯片验证工程师们，您是否想了解芯片验证的新技术和新趋势？您是否想与业内专家和同行交流经验和心得？您是否想提升自己的芯片验证能力和水平？

这场专为芯片验证工程师们打造的
专业和实用的芯片验证技术交流会
不容错过！

活动中，您将有机会听到三位来自不同领域的芯片验证专家的精彩讲座，了解实验室Validation自动化实现过程中的三方面挑战，模拟芯片验证的发展历程与未来趋势，以及玩转数字模式仪器之高速FPGA篇。同时还有机会参与小组互动讨论交流，与其他芯片验证工程师们分享您的观点和问题，拓展您的人脉和视野。

席次有限，请您提前扫描二维码报名注册。期待与您在芯片验证技术交流会相见！

时间：2023年10月27日（星期五）下午15：00-17：00
地址：上海市张江高科技园区海趣路36、58号2幢4楼

活动议程：

15:00-15:30	张向才纳芯微测试开发经理	演讲主题：《实验室Validation自动化实现过程中的三方面挑战》讲座简介：不同于面向缺陷（defect）自动化量产测试，面向芯片特征（characteristic）的自动化验证（validation）目的是为硅后首颗样品提供高效率的全面评估并及时得到评估结果。实现这个目标的过程中有三个方面的挑战，第一是对DUT特性的认知，第二是测试硬件电路设计与测试仪器集成的的标准化，第三是测试软件开发和数据呈现形式的标准化。
15:30-15:40	张琛 NI半导体与电子系统研发总监	演讲主题：《模拟芯片验证的发展历程与未来趋势》讲座简介：欧美模拟设计公司是如何做到芯片验证的领先水平的？他们是如何应对芯片验证的挑战和变化的？他们是如何为芯片验证工程师提供有效的培训和指导的？我们将分析欧美模拟设计公司的芯片验证发展历程，揭示他们的成功秘诀和经验教训，同时探讨芯片验证的未来趋势和需求，帮助你把握机遇和应对变化。
15:40-16:10	黄爱华 NI应用工程师	演讲主题：《玩转数字模式仪器之高速FPGA篇》讲座简介：使用数字模式编辑器，可以轻松导入、编辑或者创建测试pattern。Shmoo图，digital scope等调试工具可加速客户对芯片不同条件下的性能。现全新开放FPGA功能，无需复杂的编程，即可轻松实现数字协议的验证和测试。
16:10-17:00	小组互动讨论交流