光焱(Enli)
针对CCD、CMOS、image sensor、相机等图像影像传感器开发,适合多种规格的芯片和板卡性能测试,包括量子效率、光谱响应、系统增益、饱和照射光子数、最小可探测照射光子数、动态范围、暗电流、线性度和线性误差、光电响应不均匀度、暗信号不均匀度、CRA特性测量。
购买