工程师，你好！

在半导体验证实验室中，工程师除了要应对快速更新的标准、不断增加的测量类型、与日俱增的成本压力以及日益缩短的开发时间等常见挑战外，还要应对不断增加的芯片复杂度，这使得他们在加速创新和产品上市的过程中举步维艰。如果这时候有一个现代化的方法，能够帮助您在验证实验室中加快验证速度，提高灵活性和效率，您会如何？

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本次研讨会将着重介绍NI的标准化测量框架，因为该框架将可帮助您高效地实现测量IP复用，提高交互式及自动化实验室工作流程的效率。